產品列表PRODUCTS LIST
弗萊(lai)貝(bei)格PIDcon測(ce)試(shi)儀 用于c-Si 太陽能電(dian)池和微(wei)型 模塊的臺式PID測(ce)試(shi)儀
弗萊(lai)貝格X-ray Diffractometer 使用X 射(she)(she)線衍射(she)(she)儀XRD 進行晶(jing)圓(yuan)棒(bang),晶(jing)圓(yuan)片及晶(jing)錠的生產質(zhi)量控制 晶(jing)棒(bang)定向(xiang)(xiang) | 晶(jing)圓(yuan)片分析| 石英片 分選 定向(xiang)(xiang): AT | SC | IT | TF | X | Y | Z
弗萊貝格PIDcheck測試儀(yi) 便攜式現場PID(電位誘導降解)測試儀(yi),適用于不同型號和尺寸的(de)c-Si模塊,無(wu)需拆卸(xie),在(zai)8小時(shi)內測試(測量時(shi)間將小于8小時(shi))。PIDcheck是(shi)與(yu)德國Fraunhofer CSP Halle公司合作開(kai)發的(de)。
弗萊(lai)貝格MDPpro晶(jing)(jing)錠(ding)壽命測量裝(zhuang)置 單晶(jing)(jing) 、多晶(jing)(jing)晶(jing)(jing)圓和晶(jing)(jing)錠(ding) 壽 命測量裝(zhuang)置 用(yong)于常規質量控制和復(fu)雜的材料(liao)研發 硅| 化合物(wu)半導體| 氧化物(wu)| 寬帶(dai)隙材料(liao)| 鈣(gai)鈦礦| 外延(yan)層 [ CdTe | InP | ZnS | SiC | GaAs | GaN | Ge ]
弗萊(lai)貝(bei)格MDPmap單晶和(he)多晶片壽命測試設備 用于先進的(de)各種(zhong)復雜材料的(de)研(yan)究(jiu) [CdTe | InP | ZnS | SiC | GaAs | GaN | Ge] 硅(gui)|化合(he)物(wu)半導體|氧化物(wu)|寬帶隙材料|鈣鈦礦|外延(yan)
弗萊(lai)貝格MDPinline ingot在線(xian)硅(gui)錠成像設備(bei) 對高通(tong)量要求的(de)(de)PV工(gong)廠中多晶(jing)和(he)類單晶(jing)錠進行電學參(can)數測(ce)試(shi)表征,在1mm分辨率下的(de)(de)總測(ce)量時間少于一(yi)分鐘。
freiberg弗萊(lai)貝格MDpicts微(wei)瞬態譜儀微(wei)波探測光(guang)誘導電流瞬態譜儀對于(yu)半導體(ti)材(cai)料少(shao)子壽(shou)命(ming),電學(xue)參數和界(jie)面陷阱等(deng)進行非(fei)接觸和非(fei)破壞(huai)性測試(shi)