弗萊貝格MDPinline ingot在線硅錠成像設備對高通量(liang)要求的PV工廠中多晶和類單晶錠進行電學參數(shu)測試(shi)表征，在1mm分辨率下的總(zong)測量(liang)時間(jian)少于一分鐘(zhong)。
更新(xin)時間：2023-06-15
弗萊貝格MDPinline ingot在線硅錠成像設備
對高(gao)通量(liang)要(yao)求(qiu)的(de)(de)PV工廠中(zhong)多晶(jing)和類單晶(jing)錠進行(xing)電學參數測試表征(zheng)，在1mm分辨率(lv)下(xia)的(de)(de)總測量(liang)時間少于(yu)一分鐘。
產品特點
檢測符合半導體標準SEMI PV9-1110
對半導體材料電學參數進行非接觸和非破壞性測試
對少子壽命參數可做面掃描測試
對不可見缺陷的可視化測試具有很高靈敏度
對鐵濃度分布做面掃描自動設置硅錠切割標準
對硅錠少子壽命的穩態測試
自動化的集成設計低成本測試
對光伏級別的硅錠進行2D成像掃描測試，
對一(yi)個硅錠，可在(zai)一(yi)分鐘內完成分辨率低(di)于1mm的成像測試
產品優勢
MDPinline ingot對有高通量要(yao)求PV工廠(chang)里(li)的(de)多(duo)晶硅錠電學參數(shu)，具(ju)備(bei)在線(xian)測試(shi)速度：在1分(fen)鐘內可完成分(fen)辨(bian)率大于1mm的(de)成像掃(sao)描測試(shi)，同時可完成電導類型轉變的(de)空(kong)間分(fen)布掃(sao)描和電阻率的(de)線(xian)掃(sao)描測試(shi)。客戶制定的(de)硅錠切割標(biao)準(zhun)，可通過數(shu)據中心，對下一代PV工廠(chang)的(de)材料制備(bei)進行(xing)全自(zi)動監控(kong)，完成對材料生長質(zhi)量控(kong)制，坩堝(guo)狀況監控(kong)，以(yi)及各種失效分(fen)析(xi)。
弗萊貝格MDPinline ingot在線硅錠成像設備
MDPinline ingot系統是范圍內的測量工具，可用于對多晶硅和類單晶硅錠進
行電學表征。專為高通量工廠中的單個晶錠測試而開發，每個晶錠都可在1分鐘內完成所有面的電學
參數表征測試參數包括1mm分(fen)(fen)辨率(lv)的少子壽命面掃描分(fen)(fen)布，電導類型(xing)分(fen)(fen)布圖，以及(ji)電阻(zu)率(lv)線掃描分(fen)(fen)布圖。
該系統包括數據處理，傳(chuan)輸和存(cun)儲，以及評估系統。提(ti)供全自動的硅錠切割(ge)位置(zhi)，用于產能(neng)，材(cai)料質(zhi)量監控，坩(gan)堝(guo)選擇和工(gong)藝優化等(deng)。
在線客服