弗萊貝格PIDcon測試儀用于c-Si 太陽能電(dian)池(chi)和微型 模(mo)塊的臺(tai)式PID測試儀
更(geng)新時間：2023-06-15
弗萊貝格PIDcon測試儀
用于c-Si 太陽能電(dian)池和(he)微型 模塊的臺式PID測試儀
Freiberg公(gong)司與德國(guo)Halle的FraunhoferCSP公(gong)司合作開發(fa)了一種可作為商業應(ying)用的臺式(shi)太陽能(neng)電池(chi)和(單個)組件(jian)的潛在誘導退化控制(zhi)(PIDcon)的測量(liang)解決方案。
弗萊貝格PIDcon測試儀的特點
+ 符合IEC 62804-TS 標準
+ 易于使用的臺式設備
+ 能夠測量c-Si太陽能電池和微型模塊
+無需氣候室
+ 無需層壓電池
+ 測量速度:小時至數天
+ 可測(ce)量參(can)數:分流電(dian)(dian)阻、功率損耗、電(dian)(dian)導率、泄漏電(dian)(dian)流、濕度、溫度
+太陽能電池可以在以后通過EL等進行研究
+ 基于IP的(de)系統允許遠程操作和技術支持從(cong)世界任何地方
c-Si太陽電池及微型組件的生產與質量控制標準試驗條件
› 電壓: up to 1.5 kV
› 溫度: 85 °C
› 測試時間: 4 hours (typical)
› 干燥條件下，不需要水
背景
2010年*報道了晶(jing)硅太陽能組件在高(gao)壓影(ying)響下(xia)的(de)故障(zhang)。受影(ying)響的(de)太陽能電(dian)(dian)池顯示分(fen)流電(dian)(dian)阻度降低。這種效應被稱為電(dian)(dian)位誘導(dao)降解（PID）。到目前(qian)為止，PID測試主要在模(mo)塊上進行。模(mo)塊制造和(he)(he)氣候室測試需要大量的(de)材料、設(she)備和(he)(he)工作費用(yong)。
PIDcon是與FraunhoferCSP合作開發(fa)的(de)(de)，目的(de)(de)是結合已建立的(de)(de)測(ce)(ce)試(shi)程(cheng)序(xu)的(de)(de)優(you)點：基于模塊的(de)(de)PID測(ce)(ce)試(shi)等現實(shi)的(de)(de)PID測(ce)(ce)試(shi)條(tiao)件，以及較低的(de)(de)時間和成本支(zhi)出。
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