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弗萊貝格PIDcon測試儀
用于c-Si 太陽(yang)能電池和微型 模塊(kuai)的臺(tai)式PID測(ce)試儀(yi)
Freiberg公司與德(de)國Halle的(de)FraunhoferCSP公司合(he)作開發(fa)了一種可作為商業應用的(de)臺式太陽(yang)能電池和(單個)組(zu)件的(de)潛(qian)在誘導(dao)退化(hua)控(kong)制(PIDcon)的(de)測(ce)量解決方案。
弗萊貝格PIDcon測試儀的特點
+ 符合IEC 62804-TS 標準
+ 易于使用的臺式設備
+ 能夠測量c-Si太陽能電池和微型模塊
+無需氣候室
+ 無需層壓電池
+ 測量速度:小時至數天
+ 可測量參數:分流電阻、功(gong)率損(sun)耗(hao)、電導(dao)率、泄(xie)漏電流、濕度(du)、溫度(du)
+太陽能電池可以在以后通過EL等進行研究
+ 基(ji)于IP的系統(tong)允許遠程(cheng)操作和技術支持從世(shi)界任(ren)何地方
c-Si太陽電池及微型組件的生產與質量控制標準試驗條件
› 電壓: up to 1.5 kV
› 溫度: 85 °C
› 測試時間(jian): 4 hours (typical)
› 干(gan)燥條件下，不(bu)需(xu)要水
背景
2010年*報(bao)道了晶硅太(tai)陽(yang)能組件在高壓影響(xiang)下的(de)故障。受(shou)影響(xiang)的(de)太(tai)陽(yang)能電(dian)池(chi)顯示分流電(dian)阻度降低。這種效應(ying)被稱(cheng)為(wei)電(dian)位誘導(dao)降解（PID）。到目(mu)前為(wei)止(zhi)，PID測(ce)試主要在模塊上進(jin)行(xing)。模塊制造和氣候(hou)室測(ce)試需要大(da)量的(de)材料、設(she)備和工(gong)作費用(yong)。
PIDcon是與FraunhoferCSP合作(zuo)開(kai)發的(de)(de)(de)，目的(de)(de)(de)是結合已建立的(de)(de)(de)測(ce)試程序的(de)(de)(de)優點：基于模塊(kuai)的(de)(de)(de)PID測(ce)試等(deng)現實的(de)(de)(de)PID測(ce)試條件，以(yi)及較低的(de)(de)(de)時間和成本支出。
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